這(zhe)些(xie)系(xi)統(tong)可(ke)用於(yu)測試量(liang)子(zi)理論關(guan)於(yu)電子和(he)正電子與物質相(xiang)互作用之(zhi)間差(cha)異(yi)的(de)預(yu)測，以及各種(zhong)材料(liao)結(jie)構和(he)過(guo)程(cheng)的(de)研究

康(kang)普(pu)頓(dun)抑(yi)制(zhi)系(xi)統(tong)可(ke)減(jian)少(shao)低(di)本底(di)計(ji)數(shu)系(xi)統(tong)的(de)康普頓(dun)平臺高(gao)度，從(cong)而提(ti)高最小(xiao)可檢(jian)測活度和整體譜(pu)質(zhi)量-特(te)別(bie)適(shi)用於(yu)小(xiao)體積樣品(pin)，如空(kong)氣(qi)濾(lv)紙(zhi)和培(pei)養(yang)皿(min)