小型輕量級(ji)的PAM儀(yi)器用探(tan)測(ce)器位(wei)於下(xia)方(fang),覆(fu)蓋著(zhe)壹(yi)層防護(hu)架。數(shu)字顯示(shi)和控(kong)制元(yuan)件安裝在(zai)上(shang)半(ban)部。塑料(liao)閃爍(shuo)體(ti)(ZnS(Ag)為(wei)阿(e)爾法模(mo)型)、反(fan)射鏡、光(guang)電(dian)倍增(zeng)和信號處(chu)理(li)電(dian)子被安(an)裝在(zai)塑(su)膠盒內。標準C大(da)小的電(dian)池(chi)位(wei)於內手柄。

PAM系(xi)列(lie)便(bian)攜式(shi)儀(yi)表主(zhu)要(yao)用於(yu)α、β和γ表面(mian)汙(wu)染(ran)的測(ce)量(liang)，廣(guang)泛用於(yu)因可(ke)能被汙(wu)染(ran)而必須(xu)監(jian)測(ce)的(de)場(chang)所(suo)，例如：核(he)電(dian)廠，核(he)廢料(liao)處理(li)廠，退(tui)役或(huo)被(bei)拆除(chu)的核(he)設施、放射性(xing)廢(fei)物(wu)處(chu)理(li)廠、醫(yi)院(yuan)、研究所(suo)及各(ge)種(zhong)環境中(zhong)的(de)應(ying)用，可(ke)對(dui)墻(qiang)壁、地(di)板(ban)、桌子(zi)、手(shou)、腳(jiao)、衣服或(huo)其(qi)他物(wu)品(pin)進(jin)行(xing)表面(mian)汙(wu)染(ran)監(jian)測(ce)。壁(bi)裝(zhuang)式(shi)PAM表面(mian)汙(wu)染(ran)儀可(ke)作(zuo)為(wei)出(chu)口(kou)處手(shou)部沾汙(wu)監(jian)測(ce)儀(yi)。

產(chan)品(pin)簡(jian)介(jie)

小型輕量級(ji)的PAM儀(yi)器用探(tan)測(ce)器位(wei)於下(xia)方(fang),覆(fu)蓋著(zhe)壹(yi)層防護(hu)架。數(shu)字顯示(shi)和控(kong)制元(yuan)件安裝在(zai)上(shang)半(ban)部。塑料(liao)閃爍(shuo)體(ti)（ZnS（Ag）為(wei)阿(e)爾法模(mo)型）、反(fan)射鏡、光(guang)電(dian)倍增(zeng)和信號處(chu)理(li)電(dian)子被安(an)裝在(zai)塑(su)膠盒內。標準C大(da)小的電(dian)池(chi)位(wei)於內手柄。

設(she)計致(zhi)力(li)於壹(yi)種簡(jian)單(dan)的(de)、方(fang)便(bian)用戶(hu)、便於(yu)使(shi)用的(de)裝置(zhi)。設(she)計中(zhong)考慮了(le)高(gao)度的(de)抗(kang)沖(chong)擊(ji)性(xing)能。

圖(tu)形顯示(shi)具有高(gao)分辨率(lv),顯示(shi)了(le)計數(shu)率(lv)和/或(huo)活(huo)躍(yue)度的直(zhi)方圖(tu)。還有(you)電(dian)池(chi)狀態指(zhi)標(biao)也會顯示(shi)。支持(chi)激(ji)活(huo)顯示(shi)器的照明。如果(guo)有(you)需(xu)要(yao),在(zai)按(an)相應(ying)按鈕(niu)後,將保持(chi)10秒(miao)有(you)效(xiao)。打開裝置(zhi)後，20秒(miao)自(zi)動激(ji)活(huo)。顯示(shi)器在標準光條(tiao)件下(xia)無(wu)照明時清晰(xi)可(ke)辨。

各(ge)種(zhong)型號為(wei)各(ge)種應(ying)用可(ke)供選擇(ze):

PAM-50—測(ce)量(liang)壹(yi)個通(tong)道(dao)的α；

PAM-100—測(ce)量(liang)壹(yi)個通(tong)道(dao)的α+β，對(dui)γ靈(ling)敏度低(di)；

PAM-150—測(ce)量(liang)兩(liang)個通(tong)道(dao)內的α/β，對(dui)γ靈(ling)敏度低(di)；

PAM-300—測(ce)量(liang)壹(yi)個通(tong)道(dao)的α+β+γ，對(dui)γ靈(ling)敏度高(gao)；

PAM-350—兩(liang)個(ge)通(tong)道(dao)內的α/β+γ，對(dui)γ靈(ling)敏度高(gao)。

檢(jian)測(ce)器用是不(bu)同(tong)厚度(du)（和壹(yi)層ZnS（Ag）模(mo)型）的(de)塑(su)料(liao)閃爍(shuo)體(ti)耦(ou)合(he)到光電(dian)倍增(zeng)管; 窗(chuang)口(kou)被遮(zhe)光(guang)的箔(bo)片和金屬(shu)架覆(fu)蓋。

*反(fan)射器的幾何形狀和表面(mian)確(que)保(bao)很(hen)好(hao)的均勻(yun)性(xing)和效率(lv)。

輸入脈沖(chong)為(wei)聲(sheng)音顯示(shi)，使用國(guo)產(chan)電(dian)信號器。按下(xia)相應(ying)的按(an)鈕(niu)，可(ke)開(kai)/關(guan)聲音(yin)顯示(shi)。

可(ke)通(tong)過USB連接(jie)器使用串行線(xian)連接(jie)到外(wai)部計算(suan)機(ji)。端口(kou)為(wei)服務器。儀表的表面(mian)很(hen)容易(yi)清理(li)。

技(ji)術參(can)數

◇  檢(jian)測(ce)器類(lei)型：塑料(liao)閃爍(shuo)體(ti)ZnS（Ag）；               ◇  有(you)效(xiao)面(mian)積：正方形(xing)10×10 cm2；

◇  窗(chuang)口(kou)：含鋁聚酯薄膜箔(bo)；                         ◇  探(tan)測(ce)上(shang)限：1.105cps；

◇  β能量：150kev~2.5Mev；                        ◇  電(dian)池(chi)：標準(zhun)C號堿性(xing)電(dian)池(chi)或(huo)可(ke)充電(dian)電(dian)池(chi)；

◇  電(dian)池(chi)壽(shou)命：約(yue)150小時（不開(kai)背(bei)光燈）；            ◇  重量(liang)：約(yue)1kg；

◇  顯示(shi)屏：128x64點(dian)陣(zhen)；                           ◇  單(dan)位(wei)：cps，cps.cm-2，Bq，Bq.cm-2；

◇  探(tan)測(ce)效(xiao)率(lv)（PAM-150）：Am-241 ＞35%；Co-60 ＞21%；Tl-204 ＞32%；Sr-90+Y-90 ＞39%；

                         Cs-137 ＞32%；Co-60 ＞21%。

主(zhu)要(yao)特(te)點(dian)

◇  真(zhen)空探(tan)測(ce)器，鉑片可(ke)快速替換(huan)；                   ◇  體(ti)積小，重量(liang)輕，抗震設(she)計；

◇  用戶(hu)友(you)好(hao)型，操(cao)作(zuo)簡(jian)單(dan)；                         ◇  靈(ling)敏度高(gao)，響(xiang)應(ying)均勻(yun)；

◇  兩(liang)個(ge)可(ke)調(tiao)報(bao)警(jing)閾(yu)值；                             ◇  易(yi)去汙(wu)。

可(ke)選附(fu)件

◇  探(tan)測(ce)器塑料(liao)防護(hu)罩；                             ◇  服務軟件（PC/基於Windows的(de)）；

◇  校(xiao)準(zhun)組(zu)件；                                     ◇  便(bian)攜(xie)箱(xiang)；

◇  PAM作(zuo)為(wei)出(chu)口(kou)探(tan)測(ce)器時的壁裝式(shi)支(zhi)架；             ◇  PAM配套(tao)肩帶(dai)。

適(shi)用標(biao)準

?SN EN 60325:2005 輻(fu)射防護(hu)儀。α,和α/β（β能量大(da)於60 keV）汙(wu)染(ran)測(ce)量(liang)儀(yi)和監(jian)測(ce)儀(yi)

?SN EN 61326-1:2006 用於(yu)測(ce)量(liang)，控(kong)制和研究電(dian)氣(qi)兼容性(xing)要(yao)求(qiu)的(de)電(dian)子設備(bei)