Digilert 100輻(fu)射(she)監(jian)測(ce)儀(yi)，為(wei)您(nin)提(ti)供(gong)了快(kuai)速、精確、便捷的輻(fu)射(she)檢(jian)測手(shou)段(duan)。既可做輻(fu)射(she)劑(ji)量(liang)率(lv)檢(jian)測又能(neng)用於表面汙染(ran)測量(liang)，本(ben)產品采用GM探(tan)測(ce)方(fang)法(fa)，用以(yi)監(jian)測(ce)放(fang)射(she)性(xing)工(gong)作(zuo)場所(suo)和(he)表(biao)面,實驗(yan)室的(de)工(gong)作(zuo)臺面、地(di)板、墻壁、手(shou)、衣(yi)服(fu)、鞋(xie)的(de)α、β、γ和(he)X放(fang)射性(xing)汙染(ran)計(ji)數(shu)測(ce)量以(yi)及環境(jing)劑(ji)量(liang)率(lv)，是壹款(kuan)性(xing)價比高的輻(fu)射(she)測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)。

Digilert 100輻(fu)射(she)監(jian)測(ce)儀(yi)

簡(jian)介：

Digilert 100輻(fu)射(she)監(jian)測(ce)儀(yi)為(wei)您(nin)提(ti)供(gong)了快(kuai)速、精確、便捷的輻(fu)射(she)檢(jian)測手(shou)段(duan)。既可做輻(fu)射(she)劑(ji)量(liang)率(lv)檢(jian)測又能(neng)用於表面汙染(ran)測量(liang)，本(ben)產品采用GM探(tan)測(ce)方(fang)法(fa)，用以(yi)監(jian)測(ce)放(fang)射(she)性(xing)工(gong)作(zuo)場所(suo)和(he)表(biao)面,實(shi)驗(yan)室(shi)的工(gong)作(zuo)臺面、地(di)板、墻壁、手(shou)、衣(yi)服(fu)、鞋(xie)的(de)α、β、γ和(he)X放(fang)射(she)性(xing)汙染(ran)計(ji)數(shu)測(ce)量以(yi)及環境(jing)劑(ji)量(liang)率(lv)，是壹款(kuan)性(xing)價比高的輻(fu)射(she)測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)。

應(ying)用： 

◆檢(jian)查局部的輻(fu)射(she)泄(xie)露(lu)和(he)核(he)輻(fu)射(she)汙(wu)染(ran)； 

◆檢(jian)查周(zhou)圍(wei)環境(jing)的(de)氡(dong)輻(fu)射(she)； 

◆檢(jian)查石(shi)材(cai)等建築(zhu)材(cai)料的放(fang)射性(xing)； 

◆檢(jian)查有(you)核(he)輻(fu)射(she)危(wei)險(xian)的填(tian)埋(mai)地(di)和(he)垃(la)圾場； 

◆檢(jian)測從(cong)醫(yi)用到(dao)工(gong)業(ye)用的(de)X射(she)線(xian)儀(yi)器(qi)的(de)X射(she)線(xian)輻(fu)射(she)強(qiang)度(du)； 

◆檢(jian)查地(di)下(xia)水(shui)鐳汙染； 

◆檢(jian)查地(di)下(xia)鉆(zuan)管和(he)設備的放(fang)射(she)性(xing)； 

◆監(jian)視(shi)核(he)反應堆周(zhou)圍(wei)空(kong)氣和(he)水(shui)質的汙染(ran)； 

◆檢(jian)查個(ge)人(ren)的貴(gui)重財產(chan)和(he)珠(zhu)寶的有害輻(fu)射(she)； 

◆檢(jian)查瓷(ci)器(qi)餐具(ju)玻(bo)璃杯等的放射(she)性(xing)； 

◆精(jing)確定位(wei)輻(fu)射(she)源(yuan)； 

◆家居裝飾的檢(jian)測。 

技(ji)術性(xing)能(neng)與(yu)特(te)點(dian)： 

◆四位(wei)液晶(jing)顯(xian)示(shi) 

◆檢(jian)測α、β、γ和(he)X射(she)線(xian) 

◆計(ji)數(shu)測(ce)量、總計(ji)數(shu)測(ce)量和(he)劑(ji)量(liang)率(lv)測量(liang) 

◆1分-24小(xiao)時定時測量 

◆zui低(di)響(xiang)應(ying)能(neng)量(liang)：20Kev（X、γ射(she)線(xian)） 

  探(tan)測(ce)下(xia)限(xian)：對I-125是(shi)0.02微(wei)居; 

◆效率(lv)（4π）：接觸下(xia)：對(dui)Sr-90源(yuan)約38%，C-14源(yuan)約5.3%；P32源(yuan)約33%；Co-60源(yuan)約3% 

◆G-M 計(ji)數(shu)管,有(you)效直徑(jing)45mm,雲母(mu)窗密度1.5-2.0mg/Cm³; 

◆精(jing)度(du)μSv/h：≤500μSv/h；範(fan)圍時≤15%，在500-1000μSv/h範(fan)圍≤20%； 

  CPS：≤2500 CPS範(fan)圍時≤15% ， 在2500-5000CPS範(fan)圍≤20%； 

◆測(ce)量(liang)單(dan)位(wei)：該檢(jian)測儀(yi)常(chang)用單(dan)位(wei)（Mr/h或(huo)CPM）或(huo)SI單(dan)位(wei)（μSv/h或(huo)CPS） 

技(ji)術參數： 

◆測(ce)量(liang)範(fan)圍： 

  mR/hr: .001 to 100.0 

  CPM: 0 to 350,000 

  Total: 1 to 9,999,000 counts 

  µSv/hr: .01 to 1,000 

  CPS: 0 to 5,000

◆效率(lv)（4π）：接觸下(xia)： 

  β：C-14 （49 keV avg. 156 keV max.）: 5.3% 

     Bi-210 （390 keV avg. 1.2 MeV max.）: 32% 

     Sr-90 （546 keV and 2.3 MeV）: 38% 

     P-32 （693 keV avg. 1.7 MeV max.）: 33% 

  α： 

     Am-241 （5.5 MeV）: 18% 

     γ靈(ling)敏(min)度對(dui)Cs-137源(yuan)為(wei)5.8Cps/μSv/h;探(tan)測(ce)下(xia)限(xian)：對I-125是(shi)0.02微(wei)居。 

◆計(ji)時器(qi)： 

  以(yi)1分鐘(zhong)的增量設置1-10分鐘(zhong)內的取(qu)樣(yang)周(zhou)期； 

  以(yi)10分鐘(zhong)的增量設置10-50分鐘(zhong)內的取(qu)樣(yang)周(zhou)期； 

  以(yi)1小(xiao)時的增量設置1-24小(xiao)時內的取(qu)樣(yang)周(zhou)期； 

◆精(jing)度(du)：μSv/h：≤500μSv/h；範(fan)圍時≤15%，在500-1000μSv/h範(fan)圍≤20%；

  CPS：≤2500 CPS範(fan)圍時≤15% ， 在2500-5000CPS範(fan)圍≤20%； 

◆溫(wen)度(du)範(fan)圍：-10-+50℃ 

◆尺(chi)寸(cun)：150 x 80 x 30 mm 

◆重量：323g 

◆電(dian)源(yuan)：9V堿(jian)性(xing)電(dian)池，在正常(chang)背景下(xia)工(gong)作(zuo)200小(xiao)時，在10μSv/h下(xia)工(gong)作(zuo)24小(xiao)時