您(nin)的位置：
高純鍺（HPGe）輻射(she)探(tan)測器(qi)的分(fen)類(lei)
ORTEC提供(gong)各種(zhong)HPGe輻射(she)探(tan)測器(qi)解(jie)決(jue)方案(an)，涵蓋了幾百(bai)電子(zi)伏(fu)特（eV）範(fan)圍(wei)內(nei)的X射(she)線(xian)能(neng)量(liang)以(yi)及10 MeV及以上(shang)範圍(wei)內(nei)的伽(jia)馬(ma)射(she)線(xian)能(neng)量(liang)。這(zhe)些(xie)探(tan)測器使(shi)用(yong)P型(xing)和(he)N型(xing)的高純鍺（HPGe）制(zhi)造而(er)成(cheng)。這兩(liang)類(lei)探測(ce)器均(jun)使用(yong)液(ye)氮(dan)或(huo)機械冷卻(que)器進(jin)行低(di)溫(wen)冷(leng)卻(que)。
如何為(wei)您(nin)的應用(yong)選擇合(he)適的HPGe輻射(she)探(tan)測器(qi)
為(wei)您(nin)的特定(ding)應用(yong)選擇正確(que)的探(tan)測(ce)器(qi)需要考慮(lv)許(xu)多(duo)標準。特定(ding)測量(liang)所(suo)需的探(tan)測(ce)器(qi)不能(neng)通過單(dan)個表(biao)格(ge)或(huo)圖(tu)表(biao)確(que)定。上(shang)面(mian)的能(neng)量(liang)範(fan)圍(wei)圖(tu)表和(he)下(xia)面(mian)的關(guan)鍵(jian)屬(shu)性(xing)表(biao)應在選擇探(tan)測器(qi)時(shi)使(shi)用(yong)。您(nin)可以單(dan)擊(ji)下表中的探(tan)測(ce)器(qi)類(lei)型(xing)鏈接，以獲(huo)取有關(guan)該(gai)特定(ding)探測器的更(geng)多(duo)詳細信息。
ORTEC還有幾(ji)種(zhong)應用(yong)特定(ding)的探(tan)測(ce)器(qi)，並且具備(bei)設計(ji)和(he)制(zhi)造專用(yong)探測(ce)器(qi)的能(neng)力(li)。選擇以(yi)下鏈接了解(jie)更多(duo)詳情(qing)。
- 特定(ding)應用(yong)的輻射(she)探(tan)測器(qi)
- 特殊(shu)探測器(qi)
| FWHM分(fen)辨率（以keV為(wei)單(dan)位）@ 指定(ding)能(neng)量(liang) | |||||
| 探(tan)測器系列(lie) | 典(dian)型(xing)計(ji)數(shu) | 相對效(xiao)率 | 5.9 keV | 122 keV | 1332 keV |
| GEM | 點(dian)源(yuan) | 10-150 | 不(bu)適用(yong) | 0.80-1.30 | 1.75-2.30 |
| Profile C | 點(dian)源(yuan) | 20-175 | 0.73-1.23 | 0.85-1.30 | 1.80-2.30 |
| Profile M | 點(dian)源(yuan) | 20-175 | 不適用(yong) | 0.88-1.30 | 1.80-2.20 |
| Profile S | 點(dian)源(yuan) | 7-65 | 0.35-0.50 | 0.65-0.70 | 1.80-1.90 |
| Profile SP | 點(dian)源(yuan) | 7-50 | 0.30-0.43 | 0.59-0.63 | 1.80-1.90 |
| Profile F | 點(dian)源(yuan) | 7-60 | 不適用(yong) | 0.65-0.85 | 1.80-2.10 |
| GMX | 點(dian)源(yuan) | 10-100 | 0.60-1.20 | 不適用(yong) | 1.80-2.5 |
| GLP | 點(dian)源(yuan) | 不(bu)適用(yong) | 0.17-0.39 | 0.48-0.60 | 不適用(yong) |
| GWL | 小體積(ji)源(yuan) | 90-450毫(hao)升 | 不適用(yong) | 1.20-1.40 | 2.10-2.30 |
| 應用(yong) | 最(zui)合(he)適的探(tan)測(ce)器(qi) |
| 同步(bu)輻射(she)研(yan)究(jiu)；軟X射(she)線(xian)研(yan)究(jiu) | GLP |
| 具有復雜譜的大(da)型(xing)環境樣品 | GEM、GEM-F、GEM-M、GEM-C、GEM-S（推薦(jian)低本底） |
| 過(guo)濾介質(zhi)、盤狀或(huo)瓶(ping)狀的環(huan)境(jing)樣(yang)品 | GEM-F、GEM-C、GEM-S、GEM、GMX |
| 小型(xing)環境樣品 | GWL（推薦(jian)低本底） |
| 高等(deng)級(ji)裂(lie)變材料/安(an)全(quan)保障(zhang) | SGD、SGD-GEM |
| 中子(zi)活(huo)化分(fen)析 | GMX（推(tui)薦(jian)附加(jia)選件(jian)） |
| 事(shi)故(gu)後(hou)監(jian)測(ce) | GEM（推薦附加(jia)選件(jian)） |
| 康普(pu)頓抑(yi)制(zhi)的伽(jia)馬(ma)能(neng)譜(pu)測(ce)量(liang) | GMX |
| 海(hai)上(shang)或(huo)空中巡查(zha) | Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、IDM-200-V |
| 肺部(bu)監(jian)測(ce) | GEM-S、錒(a)系(xi)元(yuan)素(su)-85 |
| 測(ce)量(liang)射(she)線(xian)束或(huo)近快(kuai)速(su)中子(zi)場(chang) | GMX（推薦(jian)使用(yong)原位中子(zi)損(sun)傷(shang)退(tui)火的專用(yong)內(nei)部(bu)加(jia)熱器） |
| 廢(fei)物分(fen)析 | Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V |
| 貨運/邊境安(an)全 | Micro-Detective、Detective-EX、Detective-DX、Detective-200、IDM-200-P、IDM-200-V |
| 原(yuan)位環境(jing)譜(pu)分(fen)析 | Micro-trans-SPEC、trans-SPEC-DX-100T、GEM、GMX、GEM-C、GEM-S、IDM-200-V |
