更(geng)高(gao)的(de)分(fen)辨(bian)率和效(xiao)率如(ru)圖(tu)1所示,LaBr的分辨(bian)率性(xing)能(neng)比(bi)NaI(Tl)系統高(gao)出(chu)了(le)大(da)約2倍。註(zhu)意(yi),NaI(Tl)探(tan)測(ce)器和溴化鑭探測(ce)器都(dou)不能(neng)達到HPGe探(tan)測(ce)器的(de)分辨(bian)率。對(dui)於相(xiang)同的體積,LaBr的效(xiao)率是(shi)NaI(Tl)的約(yue)1.3倍(bei),並且衰(shuai)減(jian)時間常數(shu)略(lve)大(da)於NaI探測(ce)器衰(shuai)減(jian)時間的(de)10%(參(can)見表(biao)1)。在(zai)光(guang)電子(zi)產額(e)的(de)基(ji)礎(chu)上,LaBr比(bi)NaI(Tl)具有(you)更高(gao)的(de)效(xiao)率和溫度穩(wen)定(ding)性
高(gao)計(ji)數(shu)率兼(jian)容(rong)性
溴化鑭探測(ce)器可以在(zai)很寬的計(ji)數(shu)率動態範(fan)圍(wei)內運行(xing),而能(neng)量(liang)分辨(bian)率幾(ji)乎(hu)沒有(you)變化(hua)。
| 探(tan)測(ce)器類(lei)型 | 分辨(bian)率@622 keV (%) | 密(mi)度(du) (g/cc) | 相(xiang)對於NaI的光電子(zi)產額(e) | 主(zhu)要(yao)衰(shuai)減(jian)時間 (usec) |
| LaBR3(Ce) | 2.8 - 4.0 年 | 5.29 | 130 | 0.026 |
| NaI(Tl) | 7 | 3.7 | 100 | 0.230 |
| HPGe | 0.2 (1.3 keV) | 5.35 | 不適(shi)用(yong) | 不適(shi)用(yong) |
圖2和圖3顯(xian)示了帶有(you)ORTEC digiBASE的LaBr探(tan)測(ce)器的(de)高(gao)速(su)率性(xing)能(neng)。

digiBASE在(zai)很寬的計(ji)數(shu)率範(fan)圍(wei)內具有(you)非(fei)常穩(wen)定(ding)的分(fen)辨(bian)率。


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