由低本(ben)底(di)NaI探頭，程(cheng)控集成多道分析器(qi)，計(ji)算機(ji)，鉛室(shi)等設備組成，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)γ發射(she)體(ti)的(de)放(fang)射性(xing)能譜核素(su)鑒別(bie)及活度測(ce)量。系統軟硬(ying)件(jian)配置滿(man)足中(zhong)華(hua)人(ren)民(min)共(gong)和(he)國國家(jia)標(biao)準GB6566-2010《建築材(cai)料放(fang)射性(xing)核素(su)*》和GB/T 14582-93《環(huan)境(jing)空(kong)氣中氡(dong)的標(biao)準測(ce)量方法(fa)》的(de)要(yao)求(qiu)。可廣(guang)泛用(yong)於(yu)對(dui)花(hua)崗巖、大(da)理石(shi)、水(shui)泥(ni)、煤(mei)渣(zha)、食品、沈積物和(he)地(di)質(zhi)樣(yang)品等物質(zhi)中(zhong)所(suo)含(han)放(fang)射性(xing)核素(su)進行定性(xing)和定量分析，測(ce)量核素(su)種類(lei)及其(qi)放(fang)射性(xing)活度

產(chan)品名(ming)稱(cheng)：低本(ben)底(di)多道γ能譜儀

產(chan)品型號(hao)：RTM-4096

壹(yi)、簡介：

由(you)低本(ben)底(di)NaI探頭，程(cheng)控集成多道分析器(qi)，計(ji)算機(ji)，鉛室(shi)等設備組成，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)γ發射(she)體(ti)的(de)放(fang)射性(xing)能譜核素(su)鑒別(bie)及活度測(ce)量。系統軟硬(ying)件(jian)配置滿(man)足中(zhong)華(hua)人(ren)民(min)共(gong)和(he)國國家(jia)標(biao)準GB6566-2010《建築材(cai)料放(fang)射性(xing)核素(su)*》和GB/T 14582-93《環(huan)境(jing)空(kong)氣中氡(dong)的標(biao)準測(ce)量方法(fa)》的(de)要(yao)求(qiu)。可廣(guang)泛用(yong)於(yu)對(dui)花(hua)崗巖、大(da)理石(shi)、水(shui)泥(ni)、煤(mei)渣(zha)、食品、沈積物和(he)地(di)質(zhi)樣(yang)品等物質(zhi)中(zhong)所(suo)含(han)放(fang)射性(xing)核素(su)進行定性(xing)和定量分析，測(ce)量核素(su)種類(lei)及其(qi)放(fang)射性(xing)活度或(huo)比活度值；亦(yi)可采用(yong)活性(xing)炭(tan)盒(he)法對(dui)室(shi)內或(huo)環(huan)境(jing)進(jin)行放(fang)射性(xing)氡含(han)量分析。經過計(ji)量標(biao)準化(hua)校準後，可以適(shi)用(yong)於(yu)溶液樣品、固(gu)體樣(yang)品及不(bu)同(tong)密度(du)的(de)介(jie)質(zhi)樣(yang)品的測(ce)量。

二、主要(yao)特(te)點(dian)：

1.采(cai)用(yong)中文WindowsXP平臺(tai)，適(shi)用(yong)於(yu)臺(tai)式(shi)機或(huo)筆(bi)記本;
2.外置便(bian)攜(xie)式ADC/PHA/程(cheng)控(kong)放(fang)大器(qi)/高(gao)壓壹(yi)體化(hua)集成多道分析器(qi)；

3.計(ji)算機(ji)程控(kong)調整(zheng)放(fang)大倍數(shu)、窗口(kou)甄(zhen)別(bie)閾及探(tan)測(ce)器(qi)高(gao)壓；
4.配(pei)備符合(he)國家(jia)建材(cai)天然(ran)放(fang)射性(xing)*的分(fen)析軟件包(bao)及計(ji)量校準；

三(san)、主(zhu)要(yao)技術參(can)數(shu)：

1.能(neng)量分辨(bian)率(lv)：≤7.5%（137Cs）
2.能量線性(xing)：≤±1%（50keV-3.0MeV）
3.系統穩定性(xing)：≤±1%（8h）
4.最大數(shu)據(ju)存儲道數(shu)：4096道(dao)、每(mei)道計(ji)數(shu)容(rong)量224-1
5.數(shu)據(ju)存儲道組：512、1024、2048和4096
6.鉛屏蔽室(shi)衰(shuai)減(jian)因(yin)子(zi)：≥80（50Kev-2.0Mev）典(dian)型(xing)值≤350cpm;
7.當樣品中226Ra、232Th、40K的放(fang)射性(xing)比活度大於(yu)37Bq/kg時(shi)，分析誤差不(bu)大(da)於(yu)20%。

四(si)、設備配置：

1.計(ji)算機(ji)，激光打(da)印機

2.外置便(bian)攜(xie)式數(shu)字(zi)程(cheng)控(kong)集成多道分析器(qi)

3.φ75×75mmNaI（Tl）低本(ben)底(di)γ探頭

4.標(biao)準鉛室(shi)（鉛當量厚(hou)度≥10cm）

5.通(tong)用(yong)γ譜仿(fang)真(zhen)采集軟件包（含(han)USB驅(qu)動）

6.符合(he)國家(jia)標(biao)準的建材(cai)中天(tian)然(ran)放(fang)射性(xing)含量分析軟件包(bao)

7.標(biao)準源壹(yi)套(tao)

8.檢(jian)定證(zheng)書(shu)壹(yi)套(tao)