分析壹下(xia)射線檢測儀(yi)的工作原理(li)

　　射線檢測儀(yi)，是專(zhuan)門(men)檢測電(dian)離輻射（X、α、β、γ）的儀器(qi)。

 

　　工作原理(li)

 

　　射線檢測儀(yi)是利(li)用X射線的穿透能力，在(zai)工業上(shang)壹般用(yong)於檢測壹些(xie)眼睛所(suo)看(kan)不到(dao)的(de)物品(pin)內部(bu)傷斷，或(huo)電(dian)路的(de)短(duan)路等(deng)。比如說檢(jian)測多(duo)層(ceng)基(ji)板(ban)內(nei)部(bu)電(dian)路有(you)無(wu)短路，X射線可心穿(chuan)透基(ji)板(ban)的(de)表面看(kan)到基(ji)板(ban)的(de)內(nei)部(bu)電(dian)路，在(zai)X射線發(fa)生器對面有(you)個數(shu)據(ju)接(jie)收(shou)器(qi)，自(zi)動的(de)將(jiang)接(jie)收(shou)到(dao)的輻射轉換成電(dian)信號並(bing)傳(chuan)到擴張板(ban)中(zhong)，並(bing)在(zai)電(dian)腦中(zhong)轉換成特(te)定(ding)的信(xin)號，通(tong)過(guo)的軟件(jian)將(jiang)圖(tu)像在(zai)顯示(shi)器中(zhong)顯示出(chu)來(lai)，這(zhe)樣就(jiu)可以(yi)通(tong)過(guo)肉(rou)眼(yan)觀測到(dao)基(ji)板(ban)的(de)內(nei)部(bu)結構(gou)，而(er)不用(yong)拿(na)萬(wan)用(yong)表去(qu)慢慢測試(shi)。

 

　　γ射線有很強的穿透性，射線探(tan)傷就(jiu)是利(li)用γ射線得(de)穿透性和(he)直(zhi)線性來探(tan)傷的方(fang)法(fa)。γ射線雖然不會(hui)像(xiang)可見(jian)光(guang)那(na)樣憑肉(rou)眼(yan)就(jiu)能直(zhi)接(jie)察(cha)知，但(dan)它(ta)可使照相底(di)片感(gan)光(guang)，也(ye)可用特(te)殊(shu)的(de)接(jie)收器來(lai)接(jie)收。當(dang)γ射線穿過(guo)（照射）物質(zhi)時，該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)密度越大(da)，射線強度減(jian)弱得(de)越多(duo)，即(ji)射線能穿透過(guo)該物(wu)質(zhi)的(de)強度就(jiu)越小(xiao)。此時，若(ruo)用(yong)照相底(di)片接(jie)收(shou)，則(ze)底(di)片的(de)感(gan)光(guang)量(liang)就(jiu)小；若(ruo)用(yong)儀器(qi)來(lai)接(jie)收(shou)，獲得(de)的信號就(jiu)弱。因此，用γ射線來照射待探(tan)傷的零部(bu)件(jian)時，若(ruo)其(qi)內(nei)部(bu)有氣孔、夾(jia)渣(zha)等缺(que)陷，射線穿過(guo)有缺(que)陷的(de)路徑比沒有(you)缺(que)陷的(de)路徑所(suo)透過(guo)的物(wu)質(zhi)密(mi)度要(yao)小(xiao)得(de)多(duo)，其(qi)強度就(jiu)減(jian)弱得(de)少(shao)些(xie)，即(ji)透過(guo)的強度就(jiu)大(da)些(xie)，若(ruo)用(yong)底(di)片接(jie)收(shou)，則(ze)感光(guang)量(liang)就(jiu)大(da)些(xie)，就(jiu)可以(yi)從底(di)片上(shang)反(fan)映(ying)出(chu)缺(que)陷垂(chui)直(zhi)於射線方(fang)向的(de)平(ping)面投影；若(ruo)用(yong)其(qi)它(ta)接收器(qi)也(ye)同樣(yang)可以(yi)用儀表來(lai)反(fan)映(ying)缺(que)陷垂(chui)直(zhi)於射線方(fang)向的(de)平(ping)面投影和(he)射線的透過(guo)量。壹般情況(kuang)下(xia)，γ射線探(tan)傷是不易(yi)發(fa)現裂(lie)紋(wen)的(de)，或(huo)者(zhe)說(shuo)，γ射線探(tan)傷對裂(lie)紋(wen)是不敏(min)感的(de)。因此，γ射線探(tan)傷對氣孔、夾(jia)渣(zha)、未焊(han)透等體積(ji)型(xing)缺(que)陷敏(min)感。即(ji)γ射線探(tan)傷適宜用於體積(ji)型(xing)缺(que)陷探(tan)傷，而(er)不適(shi)宜面積(ji)型缺(que)陷探(tan)傷。