粒度(du)測試(shi)的(de)基(ji)本(ben)知(zhi)識(shi)、概(gai)念(nian)及(ji)使用方(fang)法

     摘(zhai)要(yao)：粒度(du)測試(shi)，是(shi)通(tong)過(guo)特(te)定的(de)儀(yi)器(qi)和方法對(dui)粉(fen)體(ti)粒度(du)特性(xing)進行表(biao)征(zheng)的壹項實驗(yan)工作(zuo)。粉(fen)體在(zai)我(wo)們(men)日常生(sheng)活(huo)和工農(nong)業(ye)生(sheng)產(chan)中(zhong)的(de)應用非常廣(guang)泛。

      粒度(du)測試(shi)是(shi)通(tong)過(guo)特(te)定的(de)粒度(du)儀器(qi)或(huo)方(fang)法對(dui)粉(fen)體(ti)粒度(du)特性(xing)進行表(biao)征(zheng)的壹項實驗(yan)工作(zuo)。粒度(du)儀的(de)制造和應用(yong)涉(she)及(ji)顆粒學、化(hua)學分析(xi)、物(wu)理(li)學、電子學、計算(suan)機、光學等(deng)諸 多(duo)學科的(de)理(li)論(lun)知(zhi)識(shi)，又涉(she)及(ji)各(ge)種(zhong)各(ge)樣(yang)的粉體和千差(cha)萬別(bie)的(de)用戶(hu)，是(shi)壹項理(li)論(lun)性(xing)和實踐性(xing)都(dou)很(hen)強(qiang)的(de)工作(zuo)。它(ta)要求(qiu)從(cong)事這方面(mian)工作(zuo)的(de)所有人員(yuan)要(yao)有(you)豐富(fu)的理(li)論(lun)知(zhi)識(shi)和實踐 經驗(yan)，要(yao)具(ju)備(bei)分(fen)析(xi)問(wen)題和解決問(wen)題的(de)能力。為(wei)此(ci)首(shou)先(xian)應(ying)該熟(shu)悉(xi)、掌握壹些基(ji)本(ben)知(zhi)識(shi)，並在(zai)此基(ji)礎上(shang)逐步提(ti)高(gao)分(fen)析(xi)問(wen)題和解決問(wen)題的(de)能力。只有(you)這樣才能(neng)使我(wo)們(men)的(de)工作(zuo) 能(neng)力、我(wo)們(men)的(de)儀(yi)器(qi)的質(zhi)量和服(fu)務(wu)質(zhi)量不(bu)斷(duan)提高，使企業(ye)在(zai)激烈(lie)的市(shi)場競爭中取勝。我(wo)們(men)編(bian)寫這本(ben)《粒度(du)測試(shi)基(ji)本(ben)知(zhi)識(shi)百問(wen)百答(da)》小(xiao)冊子的(de)目(mu)的(de)就(jiu)在(zai)於此(ci)。本(ben)書(shu)主(zhu)要(yao)供(gong) 百特(te)公司工作(zuo)人員(yuan)學習業(ye)務(wu)知(zhi)識(shi)之用(yong)，也可(ke)供(gong)其它從(cong)事粒度(du)測試(shi)的(de)工作(zuo)人員(yuan)參考(kao)。

      壹、 粒度(du)測試(shi)的(de)基(ji)本(ben)概(gai)念(nian)和基(ji)本(ben)知(zhi)識(shi)問答(da)1. 什(shen)麽是(shi)顆粒？

       顆粒是(shi)具(ju)有壹定尺寸(cun)和形(xing)狀的(de)微小(xiao)的物(wu)體(ti)，是(shi)組成(cheng)粉(fen)體的基(ji)本(ben)單(dan)元(yuan)。它(ta)宏觀很小，但微觀卻包(bao)含(han)大量(liang)的(de)分子、原(yuan)子。

      2. 什(shen)麽叫(jiao)粒度(du)？

      顆粒的(de)大小(xiao)稱(cheng)為(wei)顆粒的(de)粒度(du)。

      3. 什(shen)麽叫(jiao)粒度(du)分布(bu)？

      用(yong)壹定方(fang)法反(fan)映(ying)出(chu)壹系列(lie)不(bu)同粒徑(jing)顆粒分(fen)別占(zhan)粉體總量(liang)的百分(fen)比(bi)叫(jiao)做(zuo)粒度(du)分布(bu)。

      4. 粒度(du)分布(bu)的(de)表(biao)示(shi)方(fang)法？

      1） 表(biao)格法：用(yong)列(lie)表(biao)的(de)方(fang)式給(gei)出(chu)某(mou)些粒徑(jing)所對應(ying)的百(bai)分比(bi)的(de)表(biao)示(shi)方(fang)法。通(tong)常有區(qu)間分布(bu)和累計(ji)分布(bu)。

      2） 圖(tu)形(xing)法：用(yong)直(zhi)方(fang)圖(tu)和曲線(xian)等(deng)圖(tu)形(xing)方式表(biao)示(shi)粒度(du)分布(bu)的(de)方(fang)法。

      3） 函(han)數法：用(yong)函(han)數表(biao)示(shi)粒度(du)分布(bu)的(de)方(fang)法。常見有R-R分(fen)布(bu)，正(zheng)態(tai)分布(bu)等(deng)。

      5. 什(shen)麽是(shi)粒徑(jing)？

       粒徑(jing)就(jiu)是(shi)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)，壹般以(yi)微(wei)米(mi)為(wei)單(dan)位。

      6. 什(shen)麽是(shi)等(deng)效(xiao)粒徑(jing)？

       等(deng)效(xiao)粒徑(jing)是(shi)指當(dang)壹個顆粒的(de)某壹物理(li)特(te)性(xing)與(yu)同質(zhi)球形(xing)顆粒相(xiang)同或(huo)相(xiang)近(jin)時，我(wo)們(men)就(jiu)用(yong)該球(qiu)形(xing)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)來(lai)代表(biao)這個實際(ji)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)。根據不(bu)同的(de)測量方法，等(deng)效(xiao)粒徑(jing)可(ke) 具(ju)體分為(wei)下(xia)列(lie)幾種(zhong)：1） 等(deng)效(xiao)體積徑(jing)：即與所測顆粒具(ju)有相(xiang)同體(ti)積的同質(zhi)球形(xing)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)。激(ji)光法所測粒徑(jing)壹般認為(wei)是(shi)等(deng)效(xiao)體積徑(jing)。

      2） 等(deng)效(xiao)沈速粒徑(jing)：即與所測顆粒具(ju)有相(xiang)同沈(chen)降(jiang)速(su)度(du)的(de)同質(zhi)球形(xing)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)。重力沈(chen)降(jiang)法、離(li)心沈(chen)降(jiang)法所測的(de)粒徑(jing)為(wei)等(deng)效(xiao)沈速粒徑(jing)，也叫(jiao)Stokes徑。

      3） 等(deng)效(xiao)電阻徑：即在(zai)壹定條(tiao)件(jian)下(xia)與所測顆粒具(ju)有相(xiang)同電(dian)阻的同質(zhi)球形(xing)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)。庫(ku)爾(er)特(te)法所測的(de)粒徑(jing)就(jiu)是(shi)等(deng)效(xiao)電阻粒徑(jing)。

      4） 等(deng)效(xiao)投影(ying)面(mian)積(ji)徑：即與所測顆粒具(ju)有相(xiang)同的(de)投影(ying)面(mian)積(ji)的球(qiu)形(xing)顆粒的(de)直(zhi)徑(jing)。圖(tu)像(xiang)法所測的(de)粒徑(jing)即為(wei)等(deng)效(xiao)投影(ying)面(mian)積(ji)直(zhi)徑(jing)。

      7. 為(wei)什(shen)麽要(yao)用等(deng)效(xiao)粒徑(jing)概(gai)念(nian)？

      由於實際(ji)顆粒的(de)形(xing)狀通(tong)常為(wei)非(fei)球(qiu)形(xing)的，因此(ci)難以(yi)直(zhi)接(jie)用粒徑(jing)這個值來(lai)表(biao)示(shi)其(qi)大小(xiao)，而(er)直(zhi)徑(jing)又(you)是(shi)描(miao)述壹個幾何(he)體(ti)大小(xiao)的(de)zui簡單的(de)壹個量，於是(shi)采(cai)用等(deng)效(xiao)粒徑(jing)的概(gai)念(nian)。