可見(jian)分(fen)光(guang)光(guang)度(du)計常見(jian)故障(zhang)處(chu)理(li)大(da)全

　　hbzhan內(nei)容導讀(du)：光(guang)度(du)計是(shi)每(mei)個(ge)化學(xue)分(fen)析(xi)實(shi)驗(yan)室(shi)*的(de)常(chang)用儀(yi)器設備之壹，在(zai)各種定(ding)量和(he)定(ding)性(xing)分析(xi)中得到(dao)了(le)廣(guang)泛的(de)應(ying)用。分光(guang)光(guang)度(du)計就是(shi)利(li)用分光(guang)光(guang)度(du)法對(dui)物質進行(xing)定(ding)量定(ding)性分(fen)析(xi)的(de)儀(yi)器。
　　
　　壹．光(guang)源(yuan)部(bu)分：
　　
　　（1）故障：鎢(wu)燈不(bu)亮(liang)；
　　
　　原因：鎢(wu)燈燈絲(si)燒(shao)斷（此(ci)種原因幾(ji)率(lv)zui高）；
　　
　　檢查：鎢(wu)燈兩(liang)端有(you)工作(zuo)電壓(ya)，但燈不(bu)亮(liang)；取下鎢(wu)燈用萬用表電阻檔(dang)檢測(ce)。
　　
　　處置(zhi)：更(geng)換新(xin)鎢(wu)燈；
　　
　　（2）故(gu)障：氘(dao)燈不(bu)亮(liang)；
　　
　　原因：氘(dao)燈起輝電路(lu)故(gu)障；
　　
　　檢查：氘燈在(zai)起輝的(de)過(guo)程中，壹般(ban)是(shi)燈絲(si)先要(yao)預熱(re)數(shu)秒鐘(zhong)，然(ran)後(hou)燈的(de)陽(yang)極(ji)與陰極(ji)間(jian)才可起輝放電，如(ru)果燈在(zai)起輝的(de)開始(shi)瞬間(jian)燈內(nei)閃動(dong)壹下或(huo)連(lian)續閃(shan)動(dong)，並(bing)且更(geng)換新(xin)的(de)氘(dao)燈後(hou)依(yi)然(ran)如(ru)此(ci)，有可能(neng)是(shi)起輝電路(lu)有(you)故障，燈電(dian)流(liu)調(tiao)整用的(de)大(da)功率(lv)晶體管損(sun)壞的(de)幾(ji)率(lv)zui大。
　　
　　處(chu)置(zhi)：需(xu)要(yao)專業(ye)人(ren)士(shi)修(xiu)理(li)；
　　
　　二．信號部分(fen)：
　　
　　（1）故障(zhang)：沒(mei)有(you)任(ren)何檢測(ce)信號輸(shu)出；
　　
　　原因：沒(mei)有任何光(guang)束照射到(dao)樣品室(shi)內；
　　
　　檢查：將波長設(she)定為(wei)530nm，狹(xia)縫(feng)盡(jin)量開到(dao)zui寬檔(dang)位，在(zai)黑暗(an)的(de)環境下(xia)用壹張白紙(zhi)放在(zai)樣品室(shi)光(guang)窗(chuang)出口處，觀(guan)察(cha)白紙(zhi)上有(you)無綠光(guang)斑影(ying)像(xiang)；
　　
　　處(chu)置(zhi)：檢查光(guang)源(yuan)鏡是(shi)否轉到(dao)位？雙(shuang)光(guang)束儀(yi)器的(de)切光(guang)電(dian)機(ji)是(shi)否轉動(dong)了(le)（耳(er)朵(duo)可以(yi)聽(ting)見(jian)電(dian)機轉(zhuan)動(dong)的(de)聲(sheng)音）？
　　
　　（2）故(gu)障(zhang)：樣品室(shi)內無(wu)任何(he)物品(pin)的(de)情況(kuang)下，全波長範(fan)圍內(nei)基線噪(zao)聲(sheng)大；
　　
　　原因：光(guang)源(yuan)鏡位置(zhi)不(bu)正(zheng)確、石(shi)英窗(chuang)表面(mian)被(bei)濺(jian)射上(shang)樣品；
　　
　　檢查：觀察(cha)光(guang)源(yuan)是(shi)否照射到(dao)入(ru)射狹(xia)縫(feng)的(de)中央？石(shi)英窗(chuang)上有(you)無汙染(ran)物？
　　
　　處(chu)置(zhi)：重(zhong)新(xin)調(tiao)整光(guang)源(yuan)鏡的(de)位置(zhi)，用乙(yi)醇(chun)清(qing)洗石(shi)英窗(chuang)；
　　
　　（3）故障(zhang)：樣品室(shi)內無(wu)任何(he)物品(pin)的(de)情況(kuang)下，僅僅是(shi)紫外區(qu)的(de)基(ji)線噪(zao)聲(sheng)大；
　　
　　原因：氘(dao)燈老(lao)化(hua)、光(guang)學(xue)系(xi)統的(de)反(fan)光(guang)鏡表面(mian)劣(lie)化(hua)、濾(lv)光(guang)片出現結(jie)晶物；
　　
　　檢查：可見(jian)區(qu)的(de)基(ji)線較(jiao)為(wei)平坦(tan)，斷電後(hou)打(da)開儀(yi)器的(de)單色(se)器及上(shang)蓋(gai)，肉(rou)眼(yan)可以(yi)觀(guan)察(cha)到光(guang)柵(zha)、反光(guang)鏡表面(mian)有(you)壹層(ceng)白色(se)霧狀(zhuang)物覆蓋(gai)在(zai)上面(mian)；如(ru)果光(guang)學(xue)系(xi)統正(zheng)常(chang)，zui大(da)的(de)可能(neng)是(shi)氘(dao)燈老(lao)化(hua)，可以(yi)通(tong)過(guo)能(neng)量檢查或更(geng)換新(xin)燈方(fang)法加(jia)以判斷；
　　
　　處置(zhi)：更(geng)換氘燈、用火棉(mian)膠粘(zhan)取鏡面(mian)上(shang)的(de)汙(wu)物或(huo)用研(yan)磨膏(gao)研(yan)磨濾(lv)光(guang)片（註意(yi)：此(ci)種技(ji)巧需(xu)要有壹定維修(xiu)經(jing)驗(yan)者(zhe)來(lai)實(shi)施(shi)）；
　　
　　（4）故(gu)障(zhang)：樣品室(shi)放入(ru)空(kong)白後(hou)做(zuo)基(ji)線(xian)記憶(yi)，噪(zao)聲(sheng)較大(da)，紫外區(qu)尤(you)甚(shen)；
　　
　　原因：比色(se)皿(min)表面(mian)或(huo)內(nei)壁(bi)被(bei)汙(wu)染(ran)、使(shi)用了玻璃比色(se)皿(min)或空(kong)白樣品對(dui)紫外光(guang)譜的(de)吸(xi)收(shou)太強(qiang)烈(lie)，使放大器超出了校正(zheng)範圍(wei)；
　　
　　檢查：將波長設(she)定為(wei)250nm，先在(zai)不(bu)放(fang)任何物品(pin)的(de)狀(zhuang)態(tai)下(xia)調(tiao)零(ling)，然後(hou)將空(kong)比色(se)皿(min)插(cha)入(ru)樣品道壹側(ce)，此(ci)時(shi)吸光(guang)值(zhi)應(ying)小於(yu)0.07Abs；如(ru)果大於(yu)此(ci)值，有可能(neng)是(shi)比色(se)皿(min)不(bu)幹(gan)凈或(huo)使用了玻璃比色(se)皿(min)；同樣方(fang)法也可判斷空(kong)白溶液(ye)的(de)吸(xi)光(guang)值(zhi)大(da)小；
　　
　　處(chu)置(zhi)：清(qing)洗比色(se)皿(min)，更(geng)換空(kong)白溶液(ye)；
　　
　　（5）故障(zhang)：吸光(guang)值(zhi)結(jie)果(guo)出現負值(zhi)（zui常(chang)見(jian)）；
　　
　　原因：沒(mei)做空(kong)白記憶(yi)、樣品的(de)吸(xi)光(guang)值(zhi)小於(yu)空(kong)白參比液(ye)；
　　
　　檢查：將參比液(ye)與樣品液(ye)調(tiao)換位置(zhi)便(bian)知(zhi)；
　　
　　處(chu)置(zhi)：做(zuo)空(kong)白記憶(yi)、調(tiao)換參比液(ye)或用參比液(ye)配置(zhi)樣品溶液(ye)；
　　
　　（6）故障(zhang)：樣品信號重現(xian)性不(bu)良(liang)；
　　
　　原因：排(pai)除(chu)儀(yi)器本身(shen)的(de)原因外(wai)，zui大的(de)可能(neng)是(shi)樣品溶液(ye)不(bu)均(jun)勻(yun)所(suo)致(zhi)；在(zai)簡易的(de)單光(guang)束儀(yi)器中，樣品池架(jia)壹般(ban)為(wei)推(tui)拉式的(de)，有(you)時(shi)重復推(tui)拉不(bu)在(zai)同壹個(ge)位置(zhi)上(shang)；
　　
　　檢查：更(geng)換壹種穩(wen)定的(de)試(shi)樣判定；
　　
　　處(chu)置(zhi)：采(cai)取正確的(de)試(shi)樣配置(zhi)手段；修(xiu)理(li)推(tui)拉式樣品架(jia)的(de)定(ding)位碰珠(zhu)；
　　
　　（7）故(gu)障：做基(ji)線掃(sao)描(miao)或(huo)樣品掃描時(shi)，基線(xian)或(huo)信(xin)號有壹個(ge)大的(de)負(fu)脈沖(chong)；
　　
　　原因：掃(sao)描速(su)度(du)設(she)置(zhi)得(de)過(guo)快，信號在(zai)讀(du)取時(shi)，誤(wu)將濾光(guang)片或光(guang)源(yuan)鏡的(de)切換當(dang)做信號讀(du)取了；
　　
　　檢查：改變(bian)掃描(miao)速(su)度(du)；
　　
　　（8）故(gu)障：做基(ji)線掃(sao)描(miao)或(huo)樣品掃描時(shi)，基線(xian)或(huo)信(xin)號有壹個(ge)長時(shi)間(jian)段的(de)負(fu)值或(huo)滿(man)屏(ping)大噪(zao)聲(sheng)；
　　
　　原因：濾(lv)光(guang)片飼服電機(ji)“失(shi)步(bu)”，造成(cheng)檔(dang)位錯(cuo)位，國產(chan)電機尤(you)甚(shen)；
　　
　　檢查：重新(xin)開機(ji)有可能(neng)回復，或打(da)開單色(se)器對(dui)照波長與濾光(guang)片的(de)相對(dui)位置(zhi)來(lai)檢查（註意(yi)：打開單色(se)器時(shi)要保(bao)護(hu)檢測(ce)器不(bu)被(bei)強(qiang)光(guang)刺(ci)激）；
　　
　　處(chu)置(zhi)：更(geng)換飼服(fu)電(dian)機；
　　
　　（9）故障(zhang)：樣品出峰(feng)位置(zhi)不(bu)對(dui)；
　　
　　原因：波長傳動(dong)機(ji)構產(chan)生位移；
　　
　　檢查：通過(guo)氘燈的(de)656.1nm的(de)特(te)征譜線(xian)來(lai)判斷波長是(shi)否準確；
　　
　　處(chu)置(zhi)：對(dui)於儀(yi)器而言(yan)處(chu)理(li)手段相對(dui)簡單，使(shi)用儀(yi)器固(gu)有的(de)自(zi)動(dong)校正(zheng)功能(neng)即可；而(er)對(dui)於相對(dui)簡單的(de)儀(yi)器，這種調(tiao)整則(ze)需要(yao)專業(ye)人(ren)員(yuan)來(lai)進行(xing)了(le)；
　　
　　（10）故障(zhang)：信(xin)號的(de)分(fen)辨(bian)率(lv)不(bu)夠(gou)，具(ju)體(ti)表現是(shi)：本應(ying)疊加在(zai)某壹大峰(feng)上的(de)小峰(feng)無法觀(guan)察(cha)到；
　　
　　原因：狹(xia)縫(feng)設(she)置(zhi)過(guo)窄而(er)掃(sao)描速(su)度(du)過(guo)快，造成(cheng)檢測(ce)器響(xiang)應(ying)速(su)度(du)跟(gen)不(bu)上(shang)，從而(er)失(shi)去(qu)應(ying)測到的(de)信(xin)號；按(an)常(chang)理(li)，壹定的(de)狹(xia)縫(feng)寬度(du)要(yao)對(dui)應(ying)壹定範(fan)圍的(de)掃(sao)描速(su)度(du)；或(huo)者狹(xia)縫(feng)設(she)置(zhi)得(de)過(guo)寬，使(shi)儀(yi)器的(de)分(fen)辨(bian)率(lv)下降(jiang)，將小峰(feng)融合(he)在(zai)大峰(feng)裏了(le)。
　　
　　檢查：放慢(man)掃描(miao)速(su)度(du)看(kan)壹看(kan)或將狹(xia)縫(feng)設(she)窄；
　　
　　處(chu)置(zhi)：將掃描(miao)速(su)度(du)、狹(xia)縫(feng)寬窄、時(shi)間(jian)常數三(san)者(zhe)擬(ni)合(he)成(cheng)壹個(ge)*化的(de)條(tiao)件(jian)；
　　
　　（11）故(gu)障(zhang)：當(dang)儀(yi)器波長固(gu)定在(zai)某個(ge)波長下(xia)時(shi)，吸光(guang)值(zhi)信(xin)號上下(xia)擺動(dong)，特(te)別(bie)是(shi)測(ce)量模式轉(zhuan)換為(wei)按(an)鍵開關(guan)式的(de)簡(jian)易儀(yi)器；
　　
　　原因：開關(guan)觸點因長(chang)期(qi)氧(yang)化所致(zhi)造(zao)成(cheng)接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang)；
　　
　　檢查：用手加重(zhong)力量按(an)琴鍵時(shi)，吸光(guang)值(zhi)隨(sui)之變(bian)化；
　　
　　處(chu)置(zhi)：用金屬活(huo)化(hua)劑清(qing)洗按(an)鍵觸點即可；
　　
　　（12）故(gu)障(zhang)：儀(yi)器零(ling)點飄忽不(bu)定(ding)，主要(yao)反(fan)映在(zai)簡易儀(yi)器上；
　　
　　原因：在(zai)簡易儀(yi)器中，零(ling)點往(wang)往(wang)是(shi)通(tong)過(guo)電位器來(lai)調(tiao)整，這(zhe)種電(dian)位器壹般(ban)是(shi)炭(tan)膜(mo)電阻制作(zuo)的(de)，使(shi)用久(jiu)了(le)往(wang)往(wang)造(zao)成(cheng)接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang)；
　　
　　處置(zhi)：更(geng)換電位器；
　　
　　還(hai)有(you)壹點補充壹下,如(ru)果是(shi)PC連(lian)接(jie)UV時(shi),同誌們(men)壹定註(zhu)意(yi)接(jie)口(kou)板別(bie)不(bu)小心(xin)被(bei)擊穿,壹定要(yao)關(guan)機後(hou)拔(ba)插(cha).若可見(jian)部(bu)分(fen)穩(wen)定性(xing)不(bu)好(hao)，有可能(neng)是(shi)鎢(wu)燈的(de)供電電(dian)壓(ya)不(bu)穩(wen)，壹般(ban)鎢(wu)燈電(dian)源(yuan)是(shi)穩(wen)壓(ya)電(dian)路(lu)。