射(she)線檢測儀的(de)工作原(yuan)理

      射線檢測儀是(shi)儀專(zhuan)門(men)檢(jian)測電離(li)輻射（X、α、β、γ）的儀器(qi)。 

      其(qi)中(zhong) α、β穿透力較(jiao)弱，X、 γ較(jiao)強。KI對電(dian)離(li)輻射具(ju)保護作用(yong)。α射線是(shi)氦原子核(he)流，β放射(she)是(shi)電子流，X射線又稱倫(lun)琴射線。它是(shi)壹(yi)種(zhong)波長很(hen)短的(de)電(dian)磁(ci)輻射，其(qi)波長約(yue)為(wei)（20～0.06）×10-8厘米之(zhi)間(jian)。倫(lun)琴射線具(ju)有很(hen)高(gao)的穿透本(ben)領，能透過許多(duo)對可(ke)見光(guang)不(bu)透明的(de)物(wu)質，如墨紙(zhi)、木料(liao)等.。γ射線，是(shi)比X射線波長更(geng)短,能量(liang)更高(gao)的壹(yi)種(zhong)電(dian)磁波.

       X射線檢測儀是(shi)利用(yong)X射線的穿透能力，在工業上壹(yi)般(ban)用(yong)於檢(jian)測壹(yi)些(xie)眼(yan)睛(jing)所看不(bu)到(dao)的(de)物(wu)品(pin)內(nei)部傷(shang)，斷，或電路的短路等。比如說檢(jian)測多層(ceng)基板內(nei)部電(dian)路有無(wu)短路，X射線可心(xin)穿透基板的表(biao)面看到(dao)基板的內(nei)部電(dian)路，在X射線發生器對面有個(ge)數(shu)據(ju)接(jie)收器，自(zi)動的(de)將接(jie)收到(dao)的(de)輻射轉(zhuan)換(huan)成電信號並(bing)傳到(dao)擴(kuo)張(zhang)板中(zhong)，並(bing)在(zai)電腦中(zhong)轉(zhuan)換(huan)成特定(ding)的信號，通過的軟(ruan)件(jian)將圖(tu)像在顯(xian)示(shi)器(qi)中(zhong)顯(xian)示(shi)出(chu)來，這樣就可(ke)以(yi)通過肉(rou)眼(yan)觀(guan)測到(dao)基板的內(nei)部結(jie)構(gou)，而(er)不(bu)用(yong)拿(na)萬(wan)用(yong)表去(qu)慢慢(man)測試。 　　

        γ射線有很(hen)強的穿透性，γ射線探傷(shang)就是(shi)利用(yong)γ射線得穿透性和直線性來探傷(shang)的方(fang)法(fa)。γ射線雖(sui)然(ran)不(bu)會像可見光那樣憑肉(rou)眼(yan)就(jiu)能直接(jie)察(cha)知，但它(ta)可(ke)使照(zhao)相(xiang)底(di)片感(gan)光(guang)，也可(ke)用(yong)特殊(shu)的接(jie)收器來接(jie)收。當γ射線穿過（照射）物(wu)質時，該物(wu)質的密度越(yue)大(da)，射線強度減(jian)弱得越(yue)多，即射(she)線能穿透過該物(wu)質的強度就(jiu)越(yue)小。此時(shi)，若(ruo)用(yong)照相(xiang)底(di)片接(jie)收，則底(di)片的(de)感(gan)光量(liang)就小(xiao)；若(ruo)用(yong)儀器(qi)來接(jie)收，獲得的信號就(jiu)弱。因(yin)此(ci)，用(yong)γ射線來照射(she)待(dai)探傷(shang)的零(ling)部件(jian)時(shi)，若(ruo)其(qi)內(nei)部有氣孔、夾渣等缺(que)陷(xian)，射線穿過有缺(que)陷(xian)的路徑比沒有缺(que)陷(xian)的路徑所透過的物(wu)質密度要(yao)小得(de)多，其(qi)強度就(jiu)減(jian)弱得少(shao)些(xie)，即透過的強度就(jiu)大(da)些(xie)，若(ruo)用(yong)底(di)片接(jie)收，則感光量(liang)就大(da)些(xie)，就可(ke)以(yi)從(cong)底(di)片上反映出(chu)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)於(yu)射線方向(xiang)的(de)平面投影；若(ruo)用(yong)其(qi)它(ta)接(jie)收器也(ye)同樣可以(yi)用(yong)儀表(biao)來反映(ying)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)於(yu)射線方向(xiang)的(de)平面投影和(he)射(she)線的透過量(liang)。壹(yi)般(ban)情況(kuang)下，γ射線探傷(shang)是(shi)不(bu)易(yi)發現裂(lie)紋的，或者說，γ射線探傷(shang)對裂(lie)紋是(shi)不(bu)敏(min)感的。因(yin)此(ci)，γ射線探傷(shang)對氣孔、夾渣、未(wei)焊透等體積型缺(que)陷(xian)zui敏感。即(ji)γ射線探傷(shang)適宜(yi)用(yong)於體(ti)積型(xing)缺(que)陷(xian)探傷(shang)，而(er)不(bu)適(shi)宜(yi)面積型(xing)缺(que)陷(xian)探傷(shang)。